| 8寸高端氣浮探針臺T-200G |
| 用于1~8寸晶圓，批次小器件，單個芯片或MEMS等器件電學性能測試。 |
| 應(yīng)用場景：I/V曲線測試，C/V測試，射頻S參數(shù)測試等； |
| 特點優(yōu)勢：高穩(wěn)定性，易用性。采用Air Bearing Stage技術(shù)增強功能。 |
| 用于實驗室芯片驗證，失效分析，產(chǎn)線射頻芯片S參數(shù)測試等。 |
| 儀器搭配：數(shù)字源表、半導體參數(shù)分析儀、LCR數(shù)字電橋、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。 |
| 可升級高溫測試功能； |
