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多功能光電探針臺(tái)G-150

用于器件，芯片或MEMS等器件光電學(xué)性能測(cè)試。

多種應(yīng)用模式：支持垂直角度、水平角度、傾斜等不同角度的耦合/接收；

儀器搭配：激光源、光功率計(jì)、光譜儀、精密電源等。

特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：滿足光電芯片（光電轉(zhuǎn)換器、Micro LED/VCSEL等測(cè)試）

高度集成化，高穩(wěn)定性！

規(guī)格參數(shù)：

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