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測(cè)芯科技將在高端產(chǎn)品開發(fā)上與德國(guó)ERS展開合作 |
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| 德國(guó)ERS是半導(dǎo)體制造行業(yè)熱管理解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，于1970年生產(chǎn)了第一套用于晶圓級(jí)測(cè)試的熱卡盤單元。 | |||
| 2020.04.20 | |||
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2020年測(cè)芯科技（CHIPTEST）春節(jié)放假通知 | ||
| 公司于2020年1月23日至2020年2月1日放假，期間暫停發(fā)貨，給您帶來(lái)不便請(qǐng)諒解，預(yù)祝春節(jié)快樂！ | |||
| 2020.01.13 | |||
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CHIPTEST公司推出新型紅外探針臺(tái)系統(tǒng) | ||
| 將高分辨率紅外相機(jī)搭載于探針臺(tái)系統(tǒng)中，應(yīng)用于微器件電熱性能分析。 | |||
| 2019.12.11 | |||
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射頻探針臺(tái)應(yīng)用于上海微系統(tǒng)所微器件參數(shù)測(cè)試 | ||
| 將探針臺(tái)系統(tǒng)與網(wǎng)絡(luò)分析儀結(jié)合，對(duì)微器件的高頻電參數(shù)進(jìn)行測(cè)試分析。 | |||
| 2019.12.06 | |||
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射頻器件進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試 | ||
| 對(duì)于納米材料的電參數(shù)測(cè)試，利用探針臺(tái)系統(tǒng)搭配高精度數(shù)字源表可高效進(jìn)行測(cè)量。 | |||
| 2019.11.23 | |||
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