| 射頻器件進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試 |
| 2019.11.23 |
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射頻測(cè)試需求主要涵蓋 RF 功率及 RF 雜訊信號(hào)測(cè)量、S 參數(shù)、阻抗匹配等 。這些應(yīng)用皆挑戰(zhàn)探針臺(tái)系統(tǒng)的機(jī)械穩(wěn)定性、最短傳輸路徑、量測(cè)最佳方向性、長(zhǎng)時(shí)間于不同類型金屬待測(cè)物上重復(fù)且高一致性的測(cè)試能力。
隨著物聯(lián)網(wǎng)、5G技術(shù)的不斷發(fā)展和普及，其涉及到的射頻芯片的測(cè)試也變得越來(lái)越廣泛，越來(lái)越重要。測(cè)試頻率也越來(lái)越高；在應(yīng)對(duì)不同測(cè)試頻率上，公司開(kāi)發(fā)出了相應(yīng)的產(chǎn)品，如射頻探針臺(tái)系統(tǒng)、毫米波探針臺(tái)系統(tǒng)等；測(cè)試系統(tǒng)主要由射頻探針臺(tái)、網(wǎng)絡(luò)分析儀、射頻探針、射頻探針調(diào)節(jié)器、穩(wěn)幅穩(wěn)相同軸線纜、顯微鏡、CCD工業(yè)相機(jī)、光學(xué)防震平臺(tái)等組成?？蓾M足客戶便捷、高效且精確的測(cè)試需求！
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