| 小型探針臺(tái)P-100 |
| 用于4寸晶圓，器件，芯片或MEMS等器件電學(xué)性能測(cè)試。 |
| 應(yīng)用場(chǎng)景：I/V曲線測(cè)試，C/V測(cè)試，射頻S參數(shù)測(cè)試等； |
| 儀器搭配：數(shù)字源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、LCR數(shù)字電橋、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。 |
| 特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：整個(gè)探針臺(tái)系統(tǒng)占用空間小，操作靈活，簡(jiǎn)單易用。能滿足用 |
| 戶對(duì)產(chǎn)品的苛刻測(cè)試要求，是小型實(shí)驗(yàn)室，研發(fā)的不錯(cuò)選擇！ |
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