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8寸毫米波探針臺T-200mmW

支持dc~1.1THz太赫茲信號測試；

用于器件電學(xué)、光-電參數(shù)驗證；卡盤尺寸、功能、形狀可定制；

可支持多種光源耦合（垂直、水平、傾斜任意角度、背面耦合等）；

樣品臺X-Y位移范圍：8英寸*8英寸，或選配25mm*25mm(精細微調(diào))；

高清解析，可升降金相顯微鏡；

可升級支持高溫、低溫功能（帶微腔結(jié)構(gòu)）；

規(guī)格參數(shù)：

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